OP-SB5GL

OP-SB5GL は、RS-232C（V.24）とTTL/C-MOS 信号レベルの通信を測定できる２つの測定ポートを装備したインターフェース拡張セットです。TTL/C-MOS 測定ポートは、1.8Ｖ電源系から5Ｖ電源系までの広い電圧範囲のTTL/C-MOSレベルの通信に対応でき、プリント基板上の通信LSI とインターフェースIC 間などの通信線に直接プロービングして、通信状態を観測テストするのに最適です。 また、TTLレベルの送受信クロックのプローブがあるので、USART同期通信が観測可能。一般的なUARTやHDLC通信の測定だけでなく、I2Cや SPI のモニターやシミュレーション、クロックに同期して全データを取り込むBurstモードのモニターにも対応しています。

[ 内部ブロック ]

[ I²C測定イメージ ]

[ SPI測定イメージ ]

拡張基板を計測器に装着後、付属のプローブポッドを使用して、測定したい通信線をクリップします。
観測テストできる信号線はSD，RD，RTS，CTS，EXIN(外部信号入力), TXC(SD_CLK)，RXC(RD_CLK)，TRG.IN(外部トリガー入力)、TRG.OT(外部トリガー出力)があり、TTLレベルの外部クロックを伴う通信にも対応できます 。データの極性や取り込むクロックの極性も設定できます。

信号レシーバ内蔵のプローブポッドまで中継ケーブルで接続できるので、大型のテスト対象へのプロービングでも困りません。

通常モード（USART)ではトリガー機能など計測器の機能をフル活用することができます。さらに、計測器をBURSTモードに設定すると、データ送出時のみクロックが供給される通信方式（クロック同期通信）も測定でき、今までのプロトコルアナライザーでは測定することのできなかった通信もモニターできます。

クロック同期通信の例

設定をI²Cモードにすることにより、スタートシーケンス、ストップシーケンスを含むI²Cシリアル通信のテストができます。I²Cでは翻訳表示が可能でリード、ライトのシーケンスを効率よく解析できます。

＜I²Cモニター例（LE-3500XR)＞

＜I²C翻訳表示例（LE-3500XR)＞

＜I²Cモニター例（LE-3500R)＞

＜I²C翻訳表示例（LE-3500R)＞

LE-3500XR/LE-2500XR/LE-3500R/LE-2500Rと共に使用すると、基板上のIC間の高速転送で広く利用されているSPIの転送データをモニターできます。詳細はSPI追加説明書をご覧ください。

＜SPIモニター例（LE-3500XR)＞

＜SPIフレーム表示例（LE-3500XR)＞

＜SPIモニター例（LE-3500R)＞

＜SPIフレーム表示例（LE-3500R)＞

クロック極性とクロック位相の組み合わせで４パターンあるSPI転送タイミングの全てに対応しています。

＜SPI のクロックとデータのタイミング＞

ロジアナ機能を用いて、データの論理やクロックの取り込みタイミングなどを波形で確認できます。特に、LSI間などで用いられるシリアルインターフェースは、クロックとデータの位相差や遅延などが問題になることが、しばしばあります。このような場合は、ロジアナ機能を用いビットタイミングでの解析を行なえます。

＜HDLCロジアナ表示例（LE-3500XR)＞

＜I²ロジアナ表示例（LE-3500XR)＞

＜HDLCロジアナ表示例（LE-3500R)＞

＜I²ロジアナ表示例（LE-3500R)＞

BURSTモードを除き、シミュレーションも行なえるので開発やトラブル解析の効率を大幅に向上させます。I²CモードやSPIモードではマスター、スレーブの両モードでシミュレーションを行なうことができます。また、通常モード（USART)ではビットエラーレイトテスト(BERT）もサポートしているので、デバイスの伝送特性などのテストも容易に行なうことができます。